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非解離イオン化法全プロファイル分析標準計測装置

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 先端計測分析技術・機器開発プログラム 一般領域 機器開発タイプ

体系的番号 JPMJSN04AB
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJSN04AB
研究責任者 伊永 隆史  首都大学東京, 大学院理工学研究科, 教授
研究期間 (年度) 2004 – 2008
概要試料を真空中で中性分子に変換し、リチウムイオンを気相で付着させることにより、解離(開裂)させずに1価正イオンにします。これにより、1成分を1ピークで示す質量スペクトルが得られ、全成分のプロファイルを検出できます。誘導体化・成分分離等が不要となり、不安定な金属錯体・ラジカル等を含む、浮遊ナノ粒子・固体・液滴・気体等の試料を前処理なしに、極微少量で測定できる世界唯一の先端的質量分析装置を開発します。

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2015-09-30   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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