収束イオンビ-ム/レーザーイオン化法による単一微粒子の履歴解析装置

研究課題

研究責任者	藤井正明東京工業大学, 資源化学研究所, 教授
研究期間 (年度)	2004 – 2009
概要	ナノスケール加工可能な収束イオンビームと特定の分子種を選択検出できるレーザーイオン化を融合した新たな局所分析法により、微粒子の表面と内部の組成の違いを計測する単一微粒子履歴解析装置を開発します。有害な大気浮遊粒子状物質のうち環境場や発生起源に特徴的な微粒子に適用し、年輪の様に刻まれている組成分布情報から発生源や浮遊履歴を解明します。これにより汚染物質の生成機構を明確化する事で環境科学に貢献します。