キラル金属錯体ネットワーク膜の製造とVCD/RASコンカレント測定法の開発
| 体系的番号 |
JPMJPR06M5 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR06M5 |
研究代表者 |
佐藤 久子 科学技術振興機構, 戦略的創造研究推進事業, CREST研究員
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2006 – 2009
|
| 概要 | 分子1個を機能素子に用いることを目指したデバイス(分子デバイス)の実現には、固体面上で目的分子を規則配列・配向させる方法の開発が重要課題となります。本研究では、これに対する一つの試みとして、キラルな多核金属錯体の界面反応を利用して、多様な二次元ネットワーク構造を構築します。さらに、そのキラルネットワークの界面構造解析のために、振動円偏光二色性(VCD)と反射吸収赤外法(RAS)を組み合わせたコンカレント測定方法を開発します。
|
|---|
| 研究領域 | 界面の構造と制御 |
|---|
