| 体系的番号 |
JPMJPR0439 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR0439 |
研究代表者 |
島野 亮 東京大学, 大学院理学系研究科, 助教授
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| 研究期間 (年度) |
2004 – 2007
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| 概要 | テラヘルツ(THz)周波数帯での分光技術は、半導体や、高温超伝導に代表される特異な巨視的量子現象を示す物質の高周波伝導特性評価や、ナノ材料評価、生体分子分析など、広い応用展開が期待される計測技術です。本研究はTHz電磁波の偏光自由度に着目し、THz周波数帯での高感度光学活性計測技術を創出することを目的とします。本手法により半導体、高温超伝導体の非接触ホール伝導度評価、キラル分子の構造分析が可能になります。
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| 研究領域 | 構造機能と計測分析 |
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