| 体系的番号 |
JPMJPR043A |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR043A |
研究代表者 |
鈴木 拓 物質・材料研究機構, ナノマテリアル研究所, 研究員
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| 研究期間 (年度) |
2004 – 2007
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| 概要 | 本研究では、スピン偏極-イオン散乱分光法(SP-ISS)を開発します。SP-ISSは、これまでの分析手法には利用されたことのない物理現象である「イオンの中性化のスピン依存」を用いて表面・界面のスピン配列を調べる全く新しい分析手法です。この開発によって、既存の分析手法では不可能な表面・界面のスピン配列解析を可能にし、スピンエレクトロニクス等の電子スピン応用技術の進展に寄与することを目指します。
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| 研究領域 | 構造機能と計測分析 |
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