| 体系的番号 |
JPMJPR0632 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR0632 |
研究代表者 |
安 東秀 東京大学, 物性研究所, リサーチフェロー
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| 研究期間 (年度) |
2006 – 2009
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| 概要 | スピンエレクトロニクスの実現への期待とともに、今後、ナノスケールの空間分解能でスピン検出可能な計測手法の開発が必須と考えられます。本研究は、従来の電子スピン共鳴分光法に、原子分解能を有する原子間力顕微鏡(AFM)の手法を応用し、探針直下の試料表面近傍の局所領域のみに電場を高周波変調し、探針から直接スピン信号を検出することで、スピン検出の空間分解能をナノスケールにまで飛躍的に高めることを狙います。
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| 研究領域 | 構造機能と計測分析 |
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