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多価イオンプロセスによるナノデバイス創製

研究課題

戦略的な研究開発の推進 戦略的創造研究推進事業 CREST

体系的番号 JPMJCR02B4
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJCR02B4

研究代表者

大谷 俊介  電気通信大学, レーザー新世代研究センター, 教授

研究期間 (年度) 2002 – 2007
概要低エネルギー多価イオン1個を半導体表面などに照射すると、入射点にナノメーターサイズの明瞭なドット構造が生成されます。そのサイズはイオン種により制御可能で、各イオン照射ごとに均一なサイズと量子構造を持つことが観察されました。本研究では、この多価イオンのもつ革新的なプロセス能力を活用し、単一イオン入射を制御しながら量子ドットを周期的に配列させる技術を開発し、新しい(光)機能性素子の創製を目指します。
研究領域超高速・超省電力高性能ナノデバイス・システムの創製

報告書

(2件)
  • 2007 事後評価書 ( PDF )   終了報告書 ( PDF )

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2016-04-26   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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