| 体系的番号 |
JPMJPR043D |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR043D |
研究代表者 |
長谷川 健 日本大学, 生産工学部, 助教授
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| 研究期間 (年度) |
2004 – 2007
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| 概要 | 多角入射分解分光法は、仮想的な縦波光を考えた全く新しい計測理論に基づく、薄膜・吸着分子の構造異方性解析のための分光法です。等式ではなく回帰式を理論構築に用いた点も、測定理論としては初の試みです。本研究は、これまで不可能だった‘非金属基板上で純面外スペクトルの測定’と、光学定数不要の分子配向解析を実現させ、界面の計測科学に新しい道を拓く光計測概念のさきがけとなります。
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| 研究領域 | 構造機能と計測分析 |
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