| 体系的番号 |
JPMJCR0504 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJCR0504 |
研究代表者 |
内藤 康秀 光産業創成大学院大学, 光医療・健康分野, 助教授
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| 研究期間 (年度) |
2005 – 2010
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| 概要 | イメージング質量分析は、半導体物理や生命科学など幅広い研究分野で現象解明の重要な手段となる、「どんな物質が試料上のどこに在るか」を調べる計測技術です。本研究では、試料表面中の微小領域をレーザー照射によって「剥ぎ取り」、表面を構成する様々な物質（イオン）を質量に基づいて分離し、刻々と飛来するイオンの像を連続的に「撮影」する装置を開発し、物質の微細な分布状態を迅速に計測するイメージング質量分析を実現します。
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| 研究領域 | 物質現象の解明と応用に資する新しい計測・分析基盤技術 |
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