| 体系的番号 |
JPMJSN04AC |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSN04AC |
| 企業責任者 |
(株)テクノエックス
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| 研究期間 (年度) |
2004 – 2008
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| 概要 | マイクロX線ビーム励起を用いた蛍光X線分析法を構築し、1粒子の計測可能サイズをΦ50nm以上、かつその定量値下限をfg(10-15g/粒子)とすることができる大気浮遊粒子等の1粒子測定用蛍光X線分析装置を開発します。極微少量環境物質である宇宙塵や大気浮遊粒子の1粒子の形状とその構成成分を、前処理なしで直接かつ多成分の同時定量を可能とし、環境分野で強く要望されている先端計測機器の実現を可能とします。
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