透過型陽電子顕微鏡

研究課題

体系的課題番号	JPMJSN05A2
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJSN05A2
研究責任者	藤浪眞紀千葉大学, 大学院工学研究科, 教授
研究期間 (年度)	2005 – 2009
概要	サブnmレベルの点欠陥から数nmのボイドといった空孔型欠陥のサイズ・量に関して、三次元分布情報を提供する透過型陽電子顕微鏡を開発します。線形加速器により発生した陽電子ビームの輸送方式、輝度増強光学システム、高効率減速材等の開発により陽電子マイクロビームの発生法を確立し、それと透過型電子顕微鏡との融合により開発課題を達成します。また、陽電子データの標準試料の整備等を行います。