研究代表者 |
村田 英幸 北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 准教授
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| 研究期間 (年度) |
2007
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| 概要 | 本応募課題の目的は、有機EL 素子の劣化過程を精密かつ非破壊で追跡できる新規な有機デバイス用分析装置を開発し有機EL ディスプレイの最大の課題である寿命向上を実現することにある。有機EL 素子の耐久性は素子作成時および駆動時の雰囲気に極めて敏感であり、微量の酸素や水分の存在によって急速に劣化することが知られている。従って素子の本質的な劣化要因を特定するためには、外部因子を完全に排除した超高真空下で素子を作成し、同時に素子の劣化状況を評価・分析することが必要である。しかしながら、これらの仕様を満たす評価装置は現存しない。本応募課題では10-10Torr 以下の超高真空中で作成した有機EL 素子を、そのままの環境で駆動させ耐久性評価を可能とする評価装置を開発し素子の劣化機構に関する知見を得る。
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