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ノーマリオフ型 GaN MOSFET の開発

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 地域事業 地域イノベーション創出総合支援事業 シーズ発掘試験

研究代表者

水谷 孝  名古屋大学, 工学研究科, 教授

研究期間 (年度) 2007
概要GaN HEMT は高周波、高耐圧、高出力で動作するトランジスタとして期待が高い。ノーマリオン型HEMT では(2)で述べる申請者等の研究成果を含めて研究が進展し、実用化は近く、今後は大電力システムの安全設計に必須でかつ回路構成が簡単なノーマリオフ型の開発が重要な課題である。しかし従来のHEMT ではゲート順バイアス電圧は2V 程度が上限であり、寄生抵抗の増大、オン電流の低下という課題はノーマリオフ型ではより顕著となり開発の大きな障害となっている。本申請ではこの課題を解決する方法として新たに提案したゲートオーバーラップ構造MOSFET により、寄生抵抗の低減・オン電流の飛躍的増大とゲート順バイアス電圧増大とが同時に実現可能なノーマリオフ型高電流GaN HEMTMOSFET を開発する。

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2016-04-25   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2023-01-10  

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