極低周波を用いた金属深部欠陥の検出と画像化の開発と応用

研究課題

研究代表者	塚田啓二岡山大学, 大学院自然科学研究科, 教授
研究期間 (年度)	2007
概要	従来の非破壊検査では困難であった金属系積層構造物等の溶接部や深部の欠陥を検出でき,しかも広い範囲での検査結果を高速に画像化できる検査装置を開発する。広い範囲でしかも高速な検査を可能とするため,試料に対して平行な2成分と垂直成分の磁場のベクトルができるマルチセンサアレイプローブを完成させる。これにより,測定対象の欠陥による微小な誘導電流変化や透磁率変化を検知し,画像化することを可能とする。