ゲートレベル診断ツールを用いたトランジスタレベル故障診断法の開発

研究課題

研究代表者	樋上喜信愛媛大学, 大学院理工学研究科, 助教授
研究期間 (年度)	2007
概要	これまでに、チップの診断手法として、トランジスタレベルのシミュレーションツールを用いる手法、および異常電流を検出する手法が提案されている。しかし、今後、益々複雑化・微細化の進むVLSIに対しては、これらの診断手法では膨大な実行時間が必要となってしまう。この課題を解決するために、本研究では、既存のゲートレベルのシミュレーションツールを用いて、トランジスタレベル相当の故障診断を可能とする、VLSI用の細部欠陥診断アルゴリズムの確立を目指す。