TEMトモグラフィー技術を用いたナノスケール・イメージベース力学解析手法の確立
研究代表者 |
高野 直樹 立命館大学, 理工学部マイクロ機械システム工学科, 教授
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研究期間 (年度) |
2007
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概要 | X線CTによるマイクロメートルの分解能を持つイメージベース力学解析手法が確立され、多孔質材料や生体分野に普及しつつあるが、本研究では1ナノメートルの高分解能を持つTEMトモグラフィーに基づき、ナノ粒子分散型複合材料を対象としたモルフォロジー分析手法・数値モデリング手法・マルチスケール応力解析手法を確立する。
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