TEMトモグラフィー技術を用いたナノスケール・イメージベース力学解析手法の確立

研究課題

研究代表者	高野直樹立命館大学, 理工学部マイクロ機械システム工学科, 教授
研究期間 (年度)	2007
概要	X線CTによるマイクロメートルの分解能を持つイメージベース力学解析手法が確立され、多孔質材料や生体分野に普及しつつあるが、本研究では1ナノメートルの高分解能を持つTEMトモグラフィーに基づき、ナノ粒子分散型複合材料を対象としたモルフォロジー分析手法・数値モデリング手法・マルチスケール応力解析手法を確立する。