| 体系的番号 |
JPMJCR0284 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJCR0284 |
研究代表者 |
松本 和彦 産業技術総合研究所, ナノテクノロジー研究部門, 統括研究員
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| 研究期間 (年度) |
2002 – 2007
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| 概要 | 本研究は、カーボンナノチューブに欠陥を導入するという独自のアイデアにより、カーボンナノチューブの電気的特性を制御し、実効的に1〜2nmのデバイスサイズを実現することにより完全室温動作の単一電子トランジスタを作製し、これを用いて個別の電荷や、個別のスピンを室温で個別に認識、測定するナノデバイス・システムを確立します。このシステムは極微細半導体素子の欠陥や不純物分布の評価、DNAなどのバイオ高分子の電荷分布、スピン分布の計測、診断が可能になり、今後の半導体産業界、医療業界等に新たな革新的技術を提供することができると期待されます。
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| 研究領域 | 新しい物理現象や動作原理に基づくナノデバイス・システムの創製 |
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