| 体系的番号 |
JPMJCR02A5 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJCR02A5 |
研究代表者 |
渡邉 聡 東京大学, 大学院工学系研究科, 助教授
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| 研究期間 (年度) |
2002 – 2007
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| 概要 | ナノ構造およびナノスケール局所領域の物性計測は、今後ますます重要になると考えられますが、プローブや外場との強い相互作用のため、計測結果の解釈は困難なものになっています。本研究は、バイアス電圧などの電気的刺激を与えるナノ物性計測の計測データから、高い信頼性で物性を予測するための解析技術の確立を目指し、計測量そのものの計算と局所物理現象を解析する計算法により、実用的ナノ計測シミュレータを開発します。
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| 研究領域 | シミュレーション技術の革新と実用化基盤の構築 |
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