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高精度にサイズ制御した単電子デバイスの開発

研究課題

戦略的な研究開発の推進 戦略的創造研究推進事業 CREST

体系的番号 JPMJCR08M4
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJCR08M4

研究代表者

真島 豊  東京工業大学, 大学院理工学研究科, 准教授

研究期間 (年度) 2008 – 2013
概要無電解メッキの自己停止機能を用いてギャップ長を高精度に制御した5nm以下のナノギャップ電極を一度に高い歩留まりで作製するプロセスを確立し、分子構造を精密に規定することが可能な金属クラスターおよび金属錯体分子ワイヤーを単電子島としてナノギャップ電極間に選択的に集積することにより、常温で確実に動作する「高精度にサイズ制御した単電子デバイス」により論理回路を構築するための製造技術を確立します。
研究領域ナノ科学を基盤とした革新的製造技術の創成

報告書

(2件)
  • 2013 事後評価書 ( PDF )   終了報告書 ( PDF )

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2016-04-26   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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