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スピン偏極イオン散乱分光

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 先端計測分析技術・機器開発プログラム 一般領域 要素技術タイプ

体系的番号 JPMJSN08BF
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJSN08BF
研究責任者 鈴木 拓  (独)物質・材料研究機構, 量子ビームセンター, 主任研究員
研究期間 (年度) 2008 – 2011
概要表面・界面の磁気構造の分析は、スピントロニクス開発などで強く要請されています。しかし、既存の分析法では表面敏感性や元素識別性の欠如により、この分析は困難でしたが、この分析を可能にする新手法として、偏極4He+ビームを用いるイオン散乱分光法(SP-ISS)を開発しました。本開発ではSP-ISSの要素技術である「偏極4He+イオン源」を開発してビームの高偏極化と大電流化とを同時に達成することで、SP-ISSの実用化に必要な測定感度を実現します。

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2015-09-30   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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