鉄ニクタイト系超伝導体の薄膜を用いた高周波伝導度スペクトロスコピーによる物性解明及び新物質開発
研究代表者 |
前田 京剛 東京大学, 大学院総合文化研究科, 准教授
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2011
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| 概要 | 鉄ニクタイド系超伝導体の物理測定に耐えうる高品質薄膜を作製し、それらを用いた研究を中心に据えて、薄膜試料でないとできない物性測定、本研究グループの得意とする物性測定による物性研究を行います。具体的には（１）特にマイクロ波（ブロードバンド）からテラヘルツまでの複素電気伝導度測定スペクトロスコピーによる同物質群の低エネルギー電荷励起の完全理解、（２）薄膜化および新物質開発による超伝導臨界温度の上昇、（３）ジョセフソン接合の作製とそれに基づくデバイス応用のポテンシャルの評価を行います。なお、必要に応じてバルク単結晶を用いたミリ波インピーダンス測定などの物性評価も適宜行い、薄膜を用いた研究にフィードバックします。この目的達成のために、これまで銅酸化物超伝導体の薄膜試料を用いた高周波伝導度測定で培ったものをベースに、本格的な研究に取り組みます。
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| 研究領域 | 新規材料による高温超伝導基盤技術 |
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