研究代表者 |
真田 克 高知工科大学, 電子・光システム工学科, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2008
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| 概要 | LSIの故障箇所候補の特定のためのソフトウエアの研究である。診断はレイアウトデータからリーク故障候補となる特異形状を特定し、回路に埋め込み、貫通電流回路網を特定し、この網のトランジスタ(Tr)の動作点解析から算出されるインピーダンス値(Im)を付加することで電圧値を算出し、実故障と一致する候補を特定する技術である。SPICE と同等の診断精度、1/100以下の診断時間及び、簡易な操作を目標とする。
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