1. 前のページに戻る

LSI故障診断システムの研究・開発

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 地域事業 地域イノベーション創出総合支援事業 シーズ発掘試験

研究代表者

真田 克  高知工科大学, 電子・光システム工学科, 教授

研究期間 (年度) 2008
概要LSIの故障箇所候補の特定のためのソフトウエアの研究である。診断はレイアウトデータからリーク故障候補となる特異形状を特定し、回路に埋め込み、貫通電流回路網を特定し、この網のトランジスタ(Tr)の動作点解析から算出されるインピーダンス値(Im)を付加することで電圧値を算出し、実故障と一致する候補を特定する技術である。SPICE と同等の診断精度、1/100以下の診断時間及び、簡易な操作を目標とする。

URL: 

JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2016-04-26   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

サービス概要 よくある質問 利用規約

Powered by NII jst