故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発

研究課題

研究代表者	高橋寛愛媛大学, 大学院理工学研究科, 助教授
研究期間 (年度)	2008
概要	次世代の携帯電話用、デジタル機器用、および車載用の高性能LSIでは、信頼性確保のためのテストコストの増大が極めて深刻な問題である。本研究では、テスト記憶容量およびテスト印加時間等検査機器の制限がある中で、多様な故障モデルを高効率・高確率で検出できる「欠陥検出向けテスト集合生成ツール」の実用化を目指している。本研究の基本的なアイディアは、故障の励起条件に着目することである。