トランジスタ不良に伴う遅延故障に対する故障検査法の開発

研究課題

研究代表者	樋上喜信愛媛大学, 大学院理工学研究科, 准教授
研究期間 (年度)	2008
概要	近年の高速LSIでは、動作タイミングに影響を与えるような物理的欠陥が問題となっている。特にトランジスタの不良に伴う遅延故障は、故障動作が多岐に渡り、故障検査が困難である。そこで本研究では、トランジスタ不良に伴う遅延故障をトランジスタレベルではなく論理レベルで故障動作をモデル化し、それを効率よく検出するような故障検査法を開発する。ここでは特に、多くの企業、研究所で利用されている縮退故障用テストパターン生成ツールを応用した、テストパターン生成法を開発する。