高分子/薄膜マイクロカンチレバーの創製と界面密着強度評価方法の開発
研究代表者 |
田中 和人 同志社大学, 工学部, 助教授
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研究期間 (年度) |
2008
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概要 | 携帯電話の可動部などに用いられるフレキシブルプリント基板は、高分子材料上に銅薄膜を成膜して作製されているが、実用下では、曲げ荷重が負荷されることが多く、銅薄膜と高分子基板のはく離を抑制し、製品の信頼性を向上させることが重要である。ここでは、集束イオンビームを用いてマイクロカンチレバーを創製するとともに、ナノインデンターを用いた曲げ試験により,高分子/薄膜界面の密着強度を定量的に評価する手法を開発する。
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