高信頼性を実現する新規静電気放電試験機の開発に向けた研究
研究代表者 |
山本 典央 滋賀県工業技術総合センター, 機械電子担当, 主任技師
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研究期間 (年度) |
2008
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概要 | あらゆる電子機器は、携帯電話の電磁波や雷サージ等、様々な電磁環境に曝され、常に誤動作や故障の危険性と隣り合わせである。そのため、電子機器の開発時には、各種電磁ノイズ耐性試験が実施され、特に身近に発生する静電気放電(ESD)に対する耐性は重要視されている。しかし、現行のESD試験規格では、試験結果の再現性に乏しいという問題点がある。そこで、これらの原因を詳細に探求し、再現性の高い(=高信頼性を有する)新たなESD試験機の開発と、試験方法の提案に向けた研究を実施する。
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