誘電体微細構造と表面極性の同時観察法の開発

研究課題

研究代表者	佐々木勝寛名古屋大学, 工学研究科, 准教授
研究期間 (年度)	2009
概要	電子・光学デバイスに用いられている誘電体材料は、ナノ領域での誘電分極を制御して作製されている。しかし、誘電分極を直接測定する方法は限られている。本研究では、研究代表者により考案された透過電子顕微鏡内電場測定法の影像歪法と透過電子顕微鏡内デバイス観察用ホルダーを用い、レーザー波長変換誘電体素子の誘電分極による表面極性の直接測定と微細構造観察を同時に行うことの出来る装置を開発する。