研究代表者 |
佐藤 英一 岩手医科大学, 共通教育センター物理学科, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2009
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| 概要 | 汎用のX線回折装置(XRD)では、目的に応じてX線管のターゲット材が選択される。本研究ではタングステン(W)ターゲットのX線管を用い、回折されるX線のフォトンエネルギーをシリコン(Si)カウンターを用いて0.4keV程度の分解能で選択し、最大10Mcpsのレートでカウントする。特に残留応力測定、単結晶の評価、小角散乱用として用いることのできるx-yスキャン方式の高速エネルギー弁別二次元センサーを開発してXRD用として実用化することを目的としている。このセンサーを用いてデバイリングなどを撮影し、残留応力測定を主としたX線回折装置の実用化も目指す。
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