研究代表者 |
大嶋 重利 山形大学, 大学院理工学研究科, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2009
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| 概要 | 超伝導薄膜や磁性薄膜の臨界電流密度(Jc)や透磁率(μ)を非破壊、非接触で測定できるシステムの開発は重要である。我々は、永久磁石を用いた新しい測定システムを提案し、その測定機器を開発している。試料を2次元的に移動させること或いは、測定素子を2次元的に移動させることにより、Jcやμの2次元マッピングが容易に測定できる。また、操作が容易なこと、スペースを取らないことなどを考慮し、パソコンで操作可能な、卓上型システムを開発する。
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