次世代型蛍光X線分析装置を用いた浮遊粒子状物質分析のための自動連続試料導入装置の開発

研究課題

研究代表者	奥田知明慶應義塾大学, 理工学部, 専任講師
研究期間 (年度)	2009
概要	浮遊粒子状物質中微量金属は人体に有害であり、簡便かつ迅速な分析法が必要である。本研究では、二次ターゲットの使用により分析対象元素に最適化された励起条件を提供すると同時に偏光光学系の併用によりバックグラウンドノイズを大幅に減少させた分析装置である次世代型エネルギー分散型蛍光X線分析装置に最適化された自動連続試料導入装置を開発し、浮遊粒子状物質中有害微量金属の多元素高感度自動連続計測技術の開発を行う。