軟X線用のオンサイト型背面反射回折環二次元イメージング機構の開発

研究課題

研究責任者	佐々木敏彦金沢大学, 人間社会研究域人間科学系, 教授
研究期間 (年度)	2011 – 2012
概要	部品の疲労や寸法精度にとって重要な残留歪・結晶格子状態の非破壊評価を、金沢大・佐々木の新解析理論を基に大幅に効率化すべく、システムの主要部である2次元X線イメージングを実現することを目的とした。このための課題である回折角2θが約156°の背面反射回折環を、出来る限りサンプルに近づけて計測できることと、測定を高速・低コスト化のため、市販の素子を採用するとともに、画像転送回路や周辺回路も独自開発し、高2θ角測定に適した小型形状と性能をめざした。その結果、目標とする機構を実現できることが判明した。