| 研究責任者 |
岩田 基 大阪府立大学, 工学研究科, 助教
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| 研究期間 (年度) |
2011
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| 概要 | 本研究開発課題の目標は、「透かし入り画像の劣化の下限をあらかじめ定義できる」という特性を維持したまま、「攻撃に対する耐性を従来方式以上にする」ことである。研究の結果、均等色空間上での変化量の上限を厳密に規定することが可能な上、透かし入り画像からの抽出誤りを0にできる電子透かし法を開発できた。実験により、従来手法では完全には0にすることができていなかった、均等色空間を用いた透かし入り画像からの情報抽出誤りを、世界で始めて0にすることに成功した上、画質面においても定量的な向上を示せた。開発法は画質設定部と耐性設定部を切り分けて設定することが可能となっているため、今後はこの特性の有効利用を図るとともに、短所である実行時間の長さを解消する。
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