分子識別3次元立体/断層画像計測用誘導ラマン散乱光干渉計の開発
体系的番号 |
JPMJSN11B8 |
DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSN11B8 |
研究責任者 |
由井 宏治 東京理科大学, 理学部, 准教授
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研究期間 (年度) |
2011 – 2013
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概要 | 誘導ラマン散乱光のもつ位相コヒーレンスに着目し、医療・工業・情報分野における3次元立体像や断層像に用いられるホログラフィやトモグラフィに応用可能なヘテロダイン誘導ラマン散乱光干渉計を開発します。最大の特徴は、分子の指紋領域におけるラマン散乱光の強度だけでなく、光干渉により位相も記録することで、分子識別ホログラフィ・トモグラフィ計測技術が実現できることにあります。
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