| 体系的番号 |
JPMJSN11E5 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSN11E5 |
| 研究責任者 |
百生 敦 東京大学, 大学院新領域創成科学研究科, 准教授
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| 研究期間 (年度) |
2011 – 2013
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| 概要 | 【装置】 本プログラム「機器開発タイプ」において開発した位相撮像装置を開放(共同利用)します。本装置は、X線Talbot(-Lau)干渉計による弱吸収物体の高感度観察が可能です。 【内容】 医療応用以外の非破壊検査分野への展開を推進します。工場の生産ラインにおけるオンライン検査や、新規な材料やデバイスの開発を目的とした実験室における精密検査の用途を想定しています。各企業からのユーザーが適度なタイミングで試用を繰り返すことができる環境を整備し、本原理による独自の装置開発をサポートするための技術指導も併せて行います。
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