半導体検出器を用いた環境測定用ガンマカメラの実用化開発

研究課題

体系的番号	JPMJSN12D6
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJSN12D6
企業責任者	日立コンシューマエレクトロニクス(株)
研究期間 (年度)	2012
概要	放射性元素による表面汚染密度をモニタリングする既開発のガンマ線カメラを多くの用途に使用できるようにするため、ガンマ線検出器となるCdTe検出器を2段化し、ピンホールコリメータを改良することで、カメラの高感度化を図るとともに、可搬性を考慮して開発します。本成果の実用化により、例えば1μSv/hの環境下で5μSv/hの表面線量をもたらすホットスポットを5mの距離から約5分で検出可能となり、家屋などにおける除染効果の迅速な確認・把握に用いることができます。