放射光研究拠点における高感度・化学状態選別型XAFS測定の実現

研究課題

研究責任者	吉田朋子名古屋大学, エコトピア科学研究所, 准教授
研究期間 (年度)	2012 – 2013
概要	本研究開発では、X線吸収・励起後に現れる可視紫外発光を利用した軟X線領域高感度XAFS測定法の確立を目的とした。放射光ビームラインにX線励起発光測定システムを構築すると共に、入射X線エネルギーに対する発光強度の変化を測定し、ppmレベルの極微量成分を対象とするXAFS測定が可能となった。更に発光波長を弁別した詳細なXAFS測定を行うと共に、XAFS解析方法を構築することで、従来法で測定されたXAFSから化学状態を選別したスペクトルを抽出することにも成功した。開発したXAFS測定法や解析法を、今後は、触媒・電池・発光材料などの機能性材料や高分子、生体分子等の様々な材料の物性評価へと展開・応用していきたい。