エネルギー認識型X線画像検出器開発と機能材料3次元局所分布分析への展開
| 体系的番号 |
JPMJSN12B4 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSN12B4 |
| 研究責任者 |
豊川 秀訓 (公財)高輝度光科学研究センター, 制御・情報部門, 主幹研究員
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| 研究期間 (年度) |
2012 – 2015
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| 概要 | 白色X線回折は結晶方位を調整しなくても簡便に回折光を捉えられるという利点があるにもかかわらず、放射光実験への応用は限定されており、精密構造解析には通常単色X線が使われています。本課題では、強度のみならずエネルギーの空間分布を同時に測定できるエネルギー認識型画像検出器を開発することでこの常識を覆し、白色X線マイクロビームによる精密構造解析法を開拓します。これにより、電子線や単色X線の利用技術では困難であった材料特性の不均一性を評価するための多結晶組織の3次元顕微観察技術の確立を目指します。
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