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SOI X線イメージ装置の活用・普及促進

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 先端計測分析技術・機器開発プログラム 一般領域 開発成果の活用・普及促進

体系的番号 JPMJSN12E2
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJSN12E2
研究責任者 新井 康夫  高エネルギー加速器研究機構, 素粒子原子核研究所, 教授
研究期間 (年度) 2012 – 2014
概要【装置】本プログラム「要素技術タイプ」において開発した Silicon-On-lnsulator (SOI、絶縁膜上に形成した単結晶シリコンを基盤とした半導体)技術を用いたX線イメージング検出器とデータ収集システムを組み合わせたプロトタイプ機を開放(共同利用)します。 【内容】SOI検出器は、高精細・高速・高感度といった特徴を持っており、従来の検出器との互換性が高く、画素毎にCMOS集積回路を搭載できることから、ユーザーに実際に使用してもらい様々な要望を聞くことにより、さらに新たな測定手法を開拓できる可能性があります。本装置の活用により、X線回折やX線異物検査、医療といった多くの分野の研究者・企業への普及が期待されます。

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2015-09-30   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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