フェリックリーチングを利用した安全・安価な化合物半導体エッチング技術の開発
研究責任者 |
野瀬 嘉太郎 京都大学, 工学研究科, 准教授
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研究期間 (年度) |
2013
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概要 | 本研究では、半導体基板の新しいエッチング技術として、Fe3+/Fe2+の還元反応を利用したフェリックリーチングを用いた技術を提案し、その実証を試みた。基板としては、SiおよびGaAsを用い、Fe3+源としてFeCl3を用いた。FeCl3溶液、臭素水、HCl溶液の比較から、Fe3+が酸化剤として働き、基板がエッチングされることを実証した。FeCl3を水に溶解させるだけでエッチング液を作製することができ、エッチング時にガスを発生せず、また室温で十分エッチング効果が得られるため、簡便で環境にやさしいエッチング技術を開発できた。さらに、Fe3+濃度など種々の条件を変化させて実験を行い、実用化に対して有用な知見を得た。
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