| 体系的番号 |
JPMJSN13A6 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSN13A6 |
| 研究責任者 |
原 徹 (独)物質・材料研究機構, 表界面構造・物性ユニット, 主幹研究員
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| 研究期間 (年度) |
2013 – 2016
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| 概要 | 透過型電子顕微鏡観察において、試料の構成元素分布を現在よりはるかに高い精度・感度で計測するために、超伝導遷移端センサをX線検出器として応用する分析電子顕微鏡を開発する。本装置により、透過型電子顕微鏡の高い空間分解能を活かしつつ、高い精度・感度での元素分布マップ取得が可能になる。組織・組成が複雑化する材料開発の分野だけでなく、医学生物学系等の幅広い分野の研究に貢献する、世界をリードする基盤的な観察・分析装置となることが期待される。
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