相界面の動的構造観察のための波長分散型表面X線回折計の開発と応用
| 体系的番号 |
JPMJPR13C5 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR13C5 |
研究代表者 |
白澤 徹郎 東京大学, 物性研究所, 助教
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| 研究期間 (年度) |
2013 – 2017
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| 概要 | 機能が発現している相界面で構造がどのように変わっているか。相界面の機能を理解するために欠くことのできない、最も基本的で重要なテーマです。本研究では相界面の構造変化を原子スケールからナノスケールまでその場観察できる時分割表面X線回折計を開発します。この方法を相界面の動的過程の理解と新規材料開発に役立てます。
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| 研究領域 | エネルギー高効率利用と相界面 |
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