テラヘルツイメージング分光による高分子材料の劣化の可視化と深さ方向分析
| 体系的番号 |
JPMJSK1417 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSK1417 |
| 研究責任者 |
佐藤 春実 神戸大学, 人間発達環境学研究科, 准教授
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| 研究期間 (年度) |
2014 – 2016
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| 概要 | テラヘルツ(THz)イメージング測定により、非破壊・非接触で高分子材料の構造・物性を可視化し、ひずみや欠陥がどのような分子構造に由来するのかを明らかにします。さらに、材料表面からの深さ方向分析により、高分子複合材料中の成分間の相互作用、結晶化度の分布、樹脂流れや残留応力などの三次元分布の情報を得ることを目指します。これにより、テラヘルツイメージングの高分子工業への基盤技術構築に貢献します。
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| 研究領域 | テラヘルツ波新時代を切り拓く革新的基盤技術の創出 |
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