体系的番号 |
JPMJSN14B3 |
DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSN14B3 |
研究責任者 |
松尾 二郎 京都大学, 大学院工学研究科, 准教授
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研究期間 (年度) |
2014 – 2017
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概要 | クラスターイオンを用いる二次イオン質量分析法により液体および固液界面の化学状態分析を実現する。本開発により、100Paの低真空下で液相が表面に存在する濡れた状態の試料の分析を可能にし、ガス雰囲気下の実用触媒やバイオ材料などの評価に適用することで、これまでの手法では得られなかった界面の化学状態に関する新たな知見が期待できる。
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