デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム
研究代表者 |
竹内 健 中央大学, 理工学部, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2015 – 2020
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| 概要 | デジタルデータを100年以上の長期にわたって保管する高信頼メモリシステムを開発します。メモリデバイスとして動作原理の異なる3種類のメモリ(フラッシュメモリ、ReRAM、ナノブリッジメモリ)を取り上げます。メモリの信頼性を限界まで高める信号処理技術にも取り組み、メモリデバイスとの統合システムを開発します。更に配線に関しては原子レベルで金属(Cu等)の拡散を防止する不浸透性を実現し、配線の長期の高信頼化を確保します。
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| 研究領域 | 素材・デバイス・システム融合による革新的ナノエレクトロニクスの創成 |
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