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外場応答性トポロジカル欠陥ネットワークの構築と多安定性デバイスへの応用

研究課題

戦略的な研究開発の推進 戦略的創造研究推進事業 さきがけ

体系的番号 JPMJPR151D
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJPR151D

研究代表者

吉田 浩之  大阪大学, 大学院工学研究科, 助教

研究期間 (年度) 2015 – 2018
概要液晶における配向の特異点はトポロジカル欠陥と呼ばれ、バルクとは異なる性質を示しますが,これまでその形状を制御することは容易ではありませんでした。本研究では界面配向技術により、制御された形状を持つ3次元トポロジカル欠陥ネットワークを構築します。更に、トポロジカル欠陥が周囲と異なる屈折率をもつこと、状態の多安定性を示すこと及び電場応答性を示すことを利用し、スマート・ウィンドウへの応用を目指します。
研究領域超空間制御と革新的機能創成

報告書

(1件)
  • 2018 終了報告書 ( PDF )

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2016-04-26   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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