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ダイオード特性を有する抵抗変化型不揮発性メモリの高エンデュランス・高保持特性の探索試験

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 マッチングプランナープログラム

体系的番号 JPMJTM15G6
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJTM15G6
研究責任者 須田 良幸  東京農工大学, 大学院工学研究院, 教授
研究期間 (年度) 2015 – 2016 (予定)

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2016-04-26   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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