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ダイオード特性を有する抵抗変化型不揮発性メモリの高エンデュランス・高保持特性の探索試験
研究課題
産学が連携した研究開発成果の展開
研究成果展開事業
マッチングプランナープログラム
体系的番号
JPMJTM15G6
DOI
https://doi.org/10.52926/JPMJTM15G6
研究責任者
須田 良幸
東京農工大学, 大学院工学研究院, 教授
研究期間 (年度)
2015 – 2016 (予定)