X線小角散乱-CT法と計算科学の融合による可視化手法の開発
研究代表者 |
小川 絋樹 京都大学, 化学研究所, 助教
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| 研究期間 (年度) |
2016 – 2019
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| 概要 | ソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造解析手法として、X線小角散乱法(SAXS法)-コンピュータートモグラフィー(CT法)による可視化手法の開発が進められていますが、現状での用途は非常に限定されています。そこで本研究では、X線小角散乱-コンピュータートモグラフィー法と計算科学を融合することにより、あらゆるソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造情報を可視化する手法の開発を目指します。
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| 研究領域 | 計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用 |
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