X線小角散乱-CT法と計算科学の融合による可視化手法の開発

研究課題

体系的番号	JPMJPR1672
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJPR1672
研究代表者	小川絋樹京都大学, 化学研究所, 助教
研究期間 (年度)	2016 – 2019
概要	ソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造解析手法として、X線小角散乱法(SAXS法)-コンピュータートモグラフィー(CT法)による可視化手法の開発が進められていますが、現状での用途は非常に限定されています。そこで本研究では、X線小角散乱-コンピュータートモグラフィー法と計算科学を融合することにより、あらゆるソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造情報を可視化する手法の開発を目指します。
研究領域	計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用

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