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X線小角散乱-CT法と計算科学の融合による可視化手法の開発

研究課題

戦略的な研究開発の推進 戦略的創造研究推進事業 さきがけ

体系的番号 JPMJPR1672
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJPR1672

研究代表者

小川 絋樹  京都大学, 化学研究所, 助教

研究期間 (年度) 2016 – 2019
概要ソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造解析手法として、X線小角散乱法(SAXS法)-コンピュータートモグラフィー(CT法)による可視化手法の開発が進められていますが、現状での用途は非常に限定されています。そこで本研究では、X線小角散乱-コンピュータートモグラフィー法と計算科学を融合することにより、あらゆるソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造情報を可視化する手法の開発を目指します。
研究領域計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用

報告書

(1件)
  • 2019 終了報告書 ( PDF )

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2017-03-22   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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