体系的番号 |
JPMJCR17O1 |
DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJCR17O1 |
研究代表者 |
宇賀 優作 国立研究開発法人農業・食品産業技術総合研究機構, 次世代作物開発研究センター, 上級研究員
|
研究期間 (年度) |
2017 – 2022
|
概要 | 不良土壌環境で作物生産を向上させるには根の改良が不可欠です。しかし、根は土中にあり計測が困難なため、どのような形に改良すればいいのか、分かっていません。本研究では、X線CT装置を応用し、根系を含めた植物全体に対する表現型および遺伝子発現解析からオミクスデータ(ROOTomics)を取得します。これらデータから環境ストレスに頑健な根の形をモデリングします。本モデルをもとに環境ストレスに頑健な作物(環境レジリエント作物)の開発を目指します。
|
研究領域 | 環境変動に対する植物の頑健性の解明と応用に向けた基盤技術の創出 |