テラヘルツ偏光イメージング分析技術の成果事業化検証のための装置開発

研究課題

体系的番号	JPMJST1734
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJST1734
研究代表者	渡邉紳一慶應義塾大学, 理工学部, 准教授
研究期間 (年度)	2017
概要	本プロジェクトでは、潜在的なニーズを有する高分子材料の内部歪み検査装置として、高速テラヘルツ偏光イメージング分析装置・データ処理プログラム・画像処理部分をMVPとして開発し、顧客が扱いやすいデータセットとして提示し、評価を受ける。