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デジタル回路設計における耐ハードウェアトロイ設計仕様の研究開発

研究課題

戦略的な研究開発の推進 戦略的創造研究推進事業 ACT-I

体系的番号 JPMJPR18UA
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJPR18UA

研究代表者

大屋 優  早稲田大学, 大学院基幹理工学研究科, 大学院生(博士課程)

研究期間 (年度) 2018 – 2019
概要近年ICの設計・製造コスト削減のため、第三者にICの設計・製造を委託しています。そのため、第三者がハードウェアに悪意のある回路、ハードウェアトロイを挿入する危険性が問題視されています。設計工程におけるハードウェアトロイの脅威に対して、半導体のテスト手法を利用する研究が注目を浴びています。そこで本研究提案は、テスト手法のフォーマル検証によりハードウェアトロイを検出する技術の研究開発を目指します。
研究領域情報と未来

報告書

(1件)
  • 2019 終了報告書 ( PDF )

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2019-08-01   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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